Diffractomètre

Positionnement de l’échantillon et du détecteur

CONTEXTE DU PROJET

Le synchrotron ESRF propose les moyens les plus avancés permettant aux industriels et laboratoires de recherche d’effectuer leurs expériences à l’échelle atomique.

La ligne CRG-IF BM32 est spécialisée dans l’étude des interfaces et surfaces dans l’air ou sous ultravide par des techniques de diffusion des rayons X.

Cette ligne est dédiée à une équipe composée de scientifiques du Commissariat à l’énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA) et du Centre national de la recherche scientifique (CNRS).

DEMANDE DU CLIENT

L’équipe mixte CEA-CNRS utilisait un diffractomètre de plus de 20 ans pour étudier la croissance des nanostructures sur les surfaces. Ils ont choisi Symétrie pour leur fournir une machine plus puissante.

Ce nouveau diffractomètre réalise deux fonctions principales :

Positionnement de l’échantillon : l’échantillon est placé sur la trajectoire du faisceau et peut bouger selon 6 degrés de liberté, grâce à un hexapode BREVA, afin d’ajuster l’angle d’incidence du faisceau.

Positionnement du détecteur : pour capturer les rayons X diffractés caractérisant la structure cristallographique de l’échantillon, un détecteur se déplace sur une surface sphérique autour de l’échantillon.

SPÉCIFICITÉS DU PROJET

Accès facile à la chambre ultravide
Vitesse du bras détecteur : 20°/s
Sphère de confusion échantillon : 50 µm
Sphère de confusion détecteur : 100 µm
Résolution de l’hexapode : 1 µm, 0,001°

PRODUITS ASSOCIÉS

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